内部波形分析在晟碟/东芝15纳米X3(每单元3位)128位NAND闪存

产品代码
IWA-10914
发布日期
22/02/2016
可用性
发布时间
商品项目代码
SAN-MicroSD_32GB
设备制造商
SanDisk公司
设备类型
NAND闪存
报告码
1215-40737-O-6WA-100
标准波形分析将提供规划算法的细节和要求,以程序的内部电压,读取和擦除的存储器单元。探测分析测试中的信号的有源探头装置和电压迹线闪光节目期间被记录,读出和擦除操作。所监视的信号包括所选择的全局字线(GWL_sel);位线(BL);一个源极线(SL),P阱隔离和N阱(PNWELL),全球串选择线(国家助学贷款),全球地选择线(GGSL)和三个非选择全局字线。TechInsights的首先需要提取和分析所述阵列的电路部分和外围设备,以确定在哪里放置探测点。标准波形报告将包含:1.页编程操作的波形的信号:GWL_sel,BL,SL,PNWELL,国家助学贷款,GGSL和三个未选择GWLs。•程序模式:“000”,“001”,“010”“011”“100”,“101”,“110”和“111”。第2页的波形读取信号的操作:GWL_sel,BL,SL,PNWELL,国家助学贷款,GGSL和三个未选择GWLs。•读取模式:“000”,“001”,“010”“011”“100”,“101”,“110”和“111”。 3. Waveforms of block erase operation on signals: GWL_sel, BL, SL, PNWELL, GSSL, GGSL and three unselected GWLs.

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